Preiskave mineralnih materialov
🇸🇮
In Slovenian
In Slovenian
Practice Known Questions
Stay up to date with your due questions
Complete 5 questions to enable practice
Exams
Exam: Test your skills
Test your skills in exam mode
Learn New Questions
Popular in this course
Learn with flashcards
Manual Mode [BETA]
Select your own question and answer types
Other available modes
Listening & SpellingSpelling: Type what you hear
multiple choiceMultiple choice mode
SpeakingAnswer with voice
Speaking & ListeningPractice pronunciation
TypingTyping only mode
Preiskave mineralnih materialov - Leaderboard
You may also like
You may also like:
Preiskave mineralnih materialov - Details
Levels:
Questions:
81 questions
| 🇸🇮 | 🇸🇮 |
| Rezultati analize | Rezultati analize • Ocenimo • natančnost ali ponovljivost • točnost ali zanesljivost • https://pubs.usgs.gov/fs/2007/3056/pdf/fs07-3056_508.pdf • Cenzurirane vrednost • Meja določljivosti ali meja detekcije (NE!!! detekcijski limit) |
| Rezultati analize | Rezultati analize • Ocenimo • natančnost ali ponovljivost • točnost ali zanesljivost • https://pubs.usgs.gov/fs/2007/3056/pdf/fs07-3056_508.pdf • Cenzurirane vrednost • Meja določljivosti ali meja detekcije (NE!!! detekcijski limit) |
| Rezultati analize | Rezultati analize • Ocenimo • natančnost ali ponovljivost • točnost ali zanesljivost • https://pubs.usgs.gov/fs/2007/3056/pdf/fs07-3056_508.pdf • Cenzurirane vrednost • Meja določljivosti ali meja detekcije (NE!!! detekcijski limit) |
| Na kaj je potrebno biti pozoren? | • Namen vzorčenja • Reprezentativnost • Resolucija • Preperelost • Orientacija vzorca • Stopnja zavarovanosti mesta |
| Označevanje vzorcev | • Številka vzorca • Lokacija • Orientacija • Opis vrste kamnine |
| Vzorci za preiskave fosilov | • Megafosili • Mikrofosili: • odvisno od vrste |
| Geološki bonton | • Za delo na prostem bodimo primerno oblečeni in obuti, še posebej v slabšem vremenu. Pri uporabi geološkega kladiva ne pozabimo na zaščitna očala in čelado. Oprema: kladivo, lupa, kislina, terenski dnevnik in fotoaparat. • S svojim delom ne vznemirjajmo in ne ogrožajmo ljudi, živali in rastlin. • Za seboj počistimo (odpadke, odvečni material). • Po težko dostopnih terenih hodimo ustrezno opremljeni in nikoli sami. Vedno koga obvestimo, kdaj, kam in za koliko časa se odpravljamo na teren. • Fosilov in mineralov iz kamnin odvzemamo le toliko, kolikor jih nujno potrebujemo za znanstveno delo. • Zanimivosti si raje beležimo, fotografiramo in snemamo. • Ne odstranjujmo vzorcev z zidov, ograj, mostov in drugih grajenih objektov. |
| Vrste vzorcev | • Zbruski: pokriti ali polirani • kamnine • keramika • cementi • Obrusi • kamnine • cementi • Vzorci za geokemijske analize • kamnine • keramika • cementi • sedimenti • tla • voda |
| Lastnosti svetlobe | • Svetloba • 380-400 nm do cca 760-780 nm • Vidna svetloba • majhen del kontinuiranega spectra • bela ali vidna svetloba Obnašanje“ svetlobe • fotoni • ima tako lastnosti valovanja kot tudi lastnosti delcev |
| Elektromagnetna sevanja | • iz električnih in magnetnih komponent • optična mineralogija • Obnašanje svetlobe znotraj mineralov • Svetlobni valovi • v ...hitrost • F ...frekvenca (Hz) • λ ...valovna dolžina F=const. Svetloba ni sestavljena iz enega vala → neskončno število valov, ki potujejo skupaj!! ? =?/λ |
| Valovna fronta in valovna normala | • Od svetlobnega vira se širi neskončno število valov • valovna fronta • valovna normala • svetlobni žarek |
| • Izotropni vs. anizotropni minerali | • izotropni minerali • v izotropnih materialih so valovne normale in svetlobni valovi vzporedni • anizotropni minerali • v anizotropnih mineralih valovne normale in svetlobni valovi niso vzporedni |
| Faza in interferenca | • Fazni zamik (Δ) • predstavlja razdaljo, za katero en val zaostaja za drugim valom • Interferenca • 1. Δ je celo število λ (Δ=iλ) • konstruktivna interferenca • 2. Δ je (i+½)λ • destruktivna interferenca • 3. Δ ima vmesno vrednost λ • delno v fazi ali delno iz faze V vakuum svetloba potuje s hitrostjo 3x1010 cm/s (3x1017 nm/s). Pri potovanju skozi katerikoli drug medij se svetloba upočasni → za ohranitev konstantne interference se mora spremeniti λ svetlobe v novem mediju |
| Odboj in lom svetlobe | • Obnašanje svetlobe na stiku dveh medijev (zrak/voda) • Odboj svetlobe • Lom svetlobe • Lomni količnik (n) • n=1.0 → vakuum • n>1.0 → ostali materiali • nvečina mineralov =med 1.4 in 2.0 Svetloba se lomi v smeri proti normali na meji ob vstopu v medij z n in proč od normale ob vstopu v medij z n |
| Polarizacija svetlobe | • Zakaj polarizacija? • svetloba, ki izvira iz nekega vira je nepolarizirana • za potrebe optične mineralogije potrebujemo svetlobo, ki niha samo v eni smeri → to dosežemo z uporabo polarizacijskega filtra • Tri vrste polarizacije • linearna polarizacija • krožna polarizacija • eliptična polarizacija Linearno polarizirana svetloba • Mehanizmi nastanka linearno polarizirane svetlobe • A. odboj svetlobe • B. selektivna absorpcija svetlobe • C. dvojni lom svetlobe • D. sipanje svetlob |
| • Refraktometrija | • določanje n mineralov z imerzijsko metodo → refraktometri • imerzijske tekočine (olja) z znanim n Relief podaja stopnjo izstopanja minerala iz okolnega materiala oz. okolice (imerzijsko olje, kanadski balzam, lepilo, drugo mineralno zrno). nolja=nminerala • nolja≠nminerala |
| Relief • Višina reliefa | • visok relief • več kot 0.12 RI enot • srednji relief • 0.04 do 0.12 RI enot • nizek relief • enaka ali manjša od 0.04 RI eno |
| Relief • Predznak reliefa | • pozitiven relief (+ve) • nmineral>nokolice • ngranat=1.760 • negativen relief (-ve) • nmineral<nokolice • nfluorit=1.433 |
| Beckejeva črta | Beckejeva črta • pas svetlobe viden vzdolž meje zrna • leži zunaj ali znotraj mineralnega zrna • omogoči določitev relativne višine nminerala glede na nokolice Beckejeva črta nastane zaradi efekta leče in/ali notranjega odboja svetlobe. |
| Efekt leče | • Robovi mineralnih zrn so praviloma tanjši kot osrednji del zrna • imajo obliko leče → delujejo kot leča • nminerala>nokolice • mineralno zrno deluje kot konvergentna leča • svetloba se koncentrira v sredini zrna • nminerala<nokolice • mineralno zrno deluje kot divergentna leča • svetloba se koncentrira v okolnem mediju |
| Notranji odboj svetlobe | Notranji odboj svetlobe • Za nastanek Beckejeve črte morajo biti robovi zrn navpični • nminerala>nokolice → pas svetlobe se skoncentrirana znotraj zrna • nminerala<nokolice → pas svetlobe se skoncentrirana v okolnem materialu |
| Gibanje Beckejeve črte | • Določanje smeri gibanja Beckejeve črte • nminerala>nokolice → stožec svetlobe nad mineralom konvergira • nminerala<nokolice → stožec svetlobe nad mineralom divergira Gibanje BČ opazujemo s spreminjanjem gorišča (fokusa) • če je slika ostra • če povečamo razdaljo med vzorcem in objektivom (znižamo mizico) • nminerala>nokolice • nminerala<nokolice • nminerala=nokolice |
| Določanje lomnega količnika v zbruskih | • Relativna določitev • natančna določitev n v zbrusku ni mogoča • n lahko relativno določimo tako, da primerjamo mineral z nepoznanim n z mineralom, katerega n poznamo • Običajni primerjalni materiali z znanimi n • epoksi, kanadski balzam, lepilo → n=1.540 • kremen • nw = 1.544 • ne = 1.553 • Beckejevo črto lahko opazujemo na meji |
| Optika • Izotropni materiali | • Pomembnejši izotropni minerali • so izmetrični (kubična singonija) • halit NaCl • fluorit CaF2 • granat X3Y2(SiO4)3 • X = Mg, Mn, Fe2+, Ca • Y = Al, Fe3+, Cr • periklaz MgO • Deformacija izometričnih mineralov |
| Optična indikatrisa | • Ponazarja, kako svetloba potuje skozi mineral. • 3D geometrijski lik • izotropna indikatrisa je krogla |
| • Ločevanje s petrografskim mikroskopom | • izotropni minerali • so temni (črni) in temni ostanejo tudi pri vrtenju mizice • anizotropni minerali • nekaj svetlobe spustijo skozi → so svetli, razen v določenih orientacijah |
| Anizotropni minerali | • Anizotropni minerali se razlikujejo od izotropnih • v anizotropnih mineralih se v-svetlobe spreminja glede na smer potovanja skozi mineral • anizotropni minerali kažejo dvojni lom (dvolom) Svetloba, ki potuje skozi kalcitni romboeder se razdeli v dva žarke, ki nihata pod pravim kotom drug na drugega: - redni žarek (omega w) → nw = 1.658 - izredni žarek (epsilon e) → ne = 1.486 |
| • Nihajni smeri dveh žarkov | • smer nihanja rednega in izrednega žarka določimo z uporabo polarizacijske folije (filtra) • preferenčna smer nihanja NS |
| • Elektromagnetna teorija | Pojasni, zakaj se v-svetlobe spreminja s smerjo potovanja skozi anizotropni mineral Izračun hitrosti dveh žarkov Lomni količnik obeh žarkov lahko izmerimo z imerzijskimi olji: - žarek z nižjim n → hitri žarek - nhitrega žarka=1.486 → vhitrega žarka=??? - žarek z višjim n → počasni žarek - npočasnega žarka=1.658 → vpočasnega žarka=??? ? =???????/??????? |
| Pakiranje | Pakiranje atomov v anizotropnih mineralih • v različnih smereh je različno • posledične je različna jakost električnega polja v različnih smereh Jakost električnega polja v anizotropnih mineralih • poljubno orientirana valovna fronta → elipsa • ena ali dve ravnini, ki imata enovito elektronsko konfiguracijo → krog namesto elipse |
| Interferenca | Interferenca • Interferenčne barve • barve anizotropnih mineralov, ki jih opazujemo v zbrusku pri vklopljenem analizatorju! • nastanejo kot posledica dvoloma Fazni zamik (Δ) • žarek monokromatske linearno polarizirane svetlobe • hitri in počasni žarek • fazni zamik • debelina minerala (d) • hitrost počasnega in hitrega žarka (vs, vf) • čas potreben, da počasni žarek preide skozi mineral (ts) |
| Interferenca na analizatorju | • Obnašanje hitrega in počasnega žarka, ko zapustita anizotropni mineral • Δ=½λ → žarka sta IZ FAZE • konstruktivna interferenca • zrna kažejo interferenčne barve • Δ=1λ → žarka sta V FAZI • destruktivna interferenca • žarka se izničita |
| Interferenca pri uporabi monokromatske svetlobe | • Vzorec klinaste oblike • vklopljen analizator (+P) • temni predeli • svetli predeli • najsvetlejša polja • mineral pod kotom 45° |
| Interferenca pri uporabi polikromatske svetlobe | • Polikromatska ali bela svetloba • sestavljena iz različnih λ • interferenčne barve na A Kremenov klin • Michel Levyjev diagram (MLD) Določanje dvolomnosti pod mikroskopom • dvolomnost minerala v zbrusku lahko določimo z enačbo Δ = ? ?? − ?f |
| Potemnitev | • Potemnevanje anizotropnega minerala pri vrtenju mizice • pri vklopljenem A • potemnitev na vsakih 90° • pod kotom 45° → mineral je v najsvetlejši možni legi Kot potemnitve • izmerimo pod mikroskopom • kot med smerjo razkolnosti (ali dolgega robu) minerala in nihajnimi smermi v mineralu • koti v istem zbrusku se lahko razlikujejo • max zabeleženi kot potemnitve je značilna lastnost za dani mineral Minerali, ki niso podolgovati in so brez razkolnosti • kota potemnitve ne moremo izmeriti • Izjeme • nimajo enotne potemnitve • kemična conarnost • napetost |
| Vrste potemnitve | • vzporedna potemnitev • poševna potemnitev • simetrična potemnitev |
| Pomožne ploščice | • Uporaba • Vrste pomožnih ploščic • kremen, sadra, muskovit |
| Določitev nihajnih smeri v mineralu | • zavrtimo mizico za toliko, da zrno potemni • zavrtimo mizico za 45° v sourni smeri • vstavimo sadrino ploščico |
| Psevdoabsorbcija | • Minerali s srednjim in velikim dvolomom |
| Barva in pleohroizem | • Barva • intenziteta se zmanjša zaradi absorbcije Barva in pleohroizem sta diagnostični lastnosti za identifikacijo mineralov! |
| Kaj je SEM? | • usmerjeni snop visoko energijskih e - • ustvari signale • 2-D slika • območja 1 cm do 5 mikronov posnamemo v načinu za skeniranje • povečave: 20X do 30,000X • prostorska ločljivost: 50-100 nm • točkovne analize izbranih lokacij na vzorcu • EDS • EBSD |
| Kaj lahko preučujemo s SEM? | • kristalografijo • orientacijo zrn • enostavna priprava vzorcev • veliki vzorci! ena najbolj uporabnih metod za analizo materialov |
| SEM | Topografija in morfologija velika globinska ostrina Kemija In-situ slikanje eksperimentov vpliv temperature In-situ slikanje eksperimentov reakcije z atmosfero |
| Princip delovanja | • pospešeni e - v SEM • energija se odvaja v obliki različnih signalov • signali vključujejo • sekundarne elektrone (SE) • povratno sipane elektrone (BSE) • lomljene povratno sipane elektrone (EBSD) • fotone • vidno svetlobo • toploto • SEM je ne-destruktivna |
| Elektronski top | • želimo veliko e - na časovno enoto • tradicionalni viri e- • termoionski e - top • W-žička, LaB6 kristal • moderni viri e- • FEG • hladni topovi • monokristal W vedno vsaj en detektor (SE) → večina SEM ima več detektorjev → uporabnost posameznega SEM je močno odvisna od vrste priključenih detektorjev |
| „Infrastrukturne“ zahteve | • primerno napajanje • vakuumski sistem • hladilni sistem • prostor brez talnih vibracij • soba brez magnetnih in električnih polj v okolici • Zakaj potrebujemo vakuum? • FEG zahteva ~ 10-10 torr → (1 atm = 101325 Pa = 760 mm Hg = 760torr) • LaB6 približno ~ 10-6torr Interakcija med e- snopom in vzorcem • elastično in neelastično siplje • signali, ki jih lahko detektiramo • interakcijski volumen |
| Signali, ki jih oddaja vzorec | Vpadni elektroni sekundarnielektroni povratno sipanielektroni Augerjevielektroni X-žarki katodoluminiscenca (svetloba) |
| Sekundarni elektroni (SE) | • nizko energijski e (~ 10-50 eV) • število SE je večje od števila vpadnih e • ločimo • SE1 • SE2 |
| Dejavniki, ki vplivajo na emisijo SE | • energija in tok e - snopa • atomsko število (Z) • lokalna ukrivljenost površine → |
| Dejavniki, ki vplivajo na emisijo BSE | • smer (orientacija) vzbujene površine • povprečno atomsko število • priprava vzorca je ključna |
| Povratno sipani elektroni (BSE) | • elastično sipanje • ločimo BSE1 in BSE2 |
| BSE vs.SE | BSE vs.SE SE in BSE se običajno uporabljajo za slikanje vzorcev |
| Rentgenski žarki (X-žarki) | • X-žarki nastanejo z neelastičnimi trki vpadnih e- z e- v posameznih orbitalah (lupinah) atomov v vzorcu • fotoni • potrebni so relativno dolgi časi zbiranja (zajemanja) signalov • najpogostejši spektrometer je EDS |
| ESEM: Environmental SEM | • nizkovakumski SEM • 0,08-30 torr • uporabijo se lahko različni plini • drugačen SE detektor • za slikanje zahtevnih vzorcev • za študij in slikanje kemičnih in fizikalnih procesov in-situ |
| Ločljivost SEM | • najboljša ločljivost, ki jo lahko dobimo • volumen, ki producira signalne e - določa ločljivost • hitrost skeniranja |
| Uporaba SEM | • pridobivanje visoko ločljivih slik oblike predmetov • prikaz prostorskih variacij v kemijski sestavi vzorcev • identifikacijo faz, ki temelji na kvalitativni ke-analizo in/ali kristalni strukturi • natančno merjenje zelo majhnih značilnosti in predmetov • za hitro ločevanje faz v večfaznih vzorcih • za proučevanje mikroteksturne in kristalografske orientacije |
| Prednosti SEM | • široka aplikacija • ključnega pomena za karakterizacijo trdnih materialov • razmeroma enostaven za uporabo • minimalna priprava vzorca • hitro zbiranje podatkov hitro • generiranje podatkov v digitalni obliki |
| Omejitve SEM | Omejitve SEM • vzorci morajo biti trdni in se mora prilegati v mikroskopa komoro • večina instrumentov zahteva stabilen vzorec v vakuumu • EDS detektor na SEM ne more zaznati zelo lahkih elementov • večina SEM uporabo „solid state“ rentgenski detektor (EDS) • za električno izolativne vzorce moramo za analizo s konvencionalnim SEM uporabiti električno prevoden prema |
| Priprava vzorcev | • odvisna od • narave vzorcev • zahtevanih podatkov, ki jiih želimo dobiti • minimalna ali kompleksna • minimalna priprava • odvzem/priprava ustezno velikega vzorca • preprečevanje kopičenja naboja na električno izolativnih vzorcih |
| Zakaj SEM? | • je vsestranski instrument • e - sonda skenira po površini vzorca in detektorji razlagajo signal v odvisnosti od časa • v načinu visoke ločljivosti, lahko dosežemo ločljivost 1 - 2 nm • uvedba ESEM in FEG je poenostavila slikanje zahtevnih vzorcev • signali • (SE) • povratno sipani elektroni (BSE) • X-žarki |
| Kaj je EPMA? | • neuradno ime: elektronska mikrosonda, ali pa samo sonda • enaka kot SEM, z dodatno možnostjo kemične analize • omogoča natančno kvantitativno elementno z valovno disperzijsko spektroskopijo (WDS) • omogoča in-situ analizo geoloških materialov |
| Vrste detektorjev | • slikanje • SE • BSE • SEM CL • 2D elementne karte • kemična sestava • energijska disperzijska spektroskopija (EDS) • valovna disperzijska spektroskopija (WDS) • prednostna orientacija kristalografskih elementov • latice preferred orientation (LPO) na nivoju kristalne rešetke (electron backscatter diffraction, EBSD). |
| Princip delovanja | • enak postopek za SEM in EPMA • trdno snov bombardiramo s pospešenim in fokusiranim e- snopom • spada med nedestruktivne metode |
| Štirje glavni sestavni deli EPMA | • vir e- • običajno W-nitna katoda (filament, ekeltronski top, FEG) • set elektromagnetnih leč • vzorčna komora • različni detektorji |
| Oddajne katode | • 2 e- vira: termoionski in „field emission“ • običajno se uporabljajo 3 vrste oddajnih katod |
| W filament | • ukrivljena W žička s premerom 125 μm • počasi izgublja W • nenamerno pregrevanje • zlom (odpoved) filamenta |
| Elektronski top | • katoda je postavljena v kovinsko posodo, ki se imenuje Wehnelt |
| Elektronski stolpec | • elektromagnetna optika • zmanjša presek snopa (d0 ) |
| Uporaba EPMA | • za kemijsko analizo geoloških materialov • za analizo posameznih faz • če je materiala zelo malo ali pa je dragocen • datiranje monacita • za analizo sintetičnih materialov |
| Prednosti EPMA | • v bistvu enak instrument kot SEM • glavno orodje za ke-analizo trdnih snovi v majhnih količinah (1-2 μm) • točkovne ke-analize izvedemo in-situ • običajno imajo vrsto detektorjev za slikanje (SE, BSE, CL) |
| Omejitve EPMA | • lahko analiziramo skoraj vse elemente, razen najlažjih elementov • nekateri elementi ustvarjajo X-žarke s prekrivajočimi piki • rezultati analiz so podani v obliki oksidov elementov in ne kot kationi • ne moremo razlikovati med različnimi valenčnimi stanji Fe |
| Priprava vzorcev EPMA | • ravne polirane površine • standardni polirani zbruski • polirani obrusi • nujno kvalitetno poliranje prevodna prevleka na vzorcih • vzorce naparimo s tanko folijo iz prevodnega materiala (ogljik, zlato in aluminij) • vzorec mora biti v električnem stiku z nosilcem • izbira prevleke je odvisna od vrste analize |
| Priprava na merjenje EPMA | • visok vakuum v vzorčni komori • izbira ustreznih analitičnih pogojev • pospeševalna napetost • tok e - snopa • fokusiranje e- snopa • standardizacija |
| Podatki in rezultati EPMA | • podatki in rezultati EPMA kemijske analize so odvisni od metode • semi-kvantitativna EDS analiza • za kvantitativno določitev sestave neznane faze potrebujemo WDS analizo • natančen analitični načrt • izdelamo pred začetkom meritev • bistvena je dobra organizacija in dokumentacija • nabor velikih količin rezultatov • izhodni podatki → rezultati |
| Zakaj EPMA? | • omogoča kvalitativno in kvantitativno analizo • omogoča enostavno identifikacijo mineralnih zrn in teksturnih značilnosti • visoko ločljive BSE slike izkoriščajo kontrast na osnovi atomskega števila • in-situ slikanje omogoča natančno korelacijo med sestavo in morfologijo zrn • omogoča merjenje zelo majhnih mineraloških pojavov • lahko dobimo veliko število kvantitativnih analiz v relativno kratkem času • je nedestruktivna • EPMA modeli omogočajo pritrditev več WDS in EDS spektrometrov • mineraloško-petrološki pomen |
| Izbira analitske metode | • na voljo veliko različnih kvalitativnih in kvantitativnih analitskih metod • metodo ciljno izberemo • pred začetkom kemijske analize: • izbira analitske metode • stopnja destruktivnosti • količina vzorca • cena in razpoložljivost laboratorija |
| Izbira laboratorija in primerne opreme | • Komercialni geokemični laboratoriji • AcmeLabs (Bureau Veritas Mineral Laboratorories) • ActlabsSGS • Xral Assay Laboratories • AGAT Laboratories • etc. • pošiljanje v tujino → ustrezni obrazci, DHL, Package sender, Carina! • Laboratorijska oprema • KEFO, Franz Krantz, Labware, etc. • Pozanimaš se... |
| Vzorčenje in priprava vzorca | • preverimo navodila laboratorija • http://acmelab.com/wp-content/uploads/2021/03/Bureau-Veritas-USD-FeeSchedule-2021-030521_compressed.pdf • zagotovimo reprezentativnost vzorčenja • odvzamemo ustrezno količino vzorca • vzorec naj bo svež (nepreperel) • preprečimo kontaminacijo med vzorčenjem eprezentativnost in homogenost vzorca • preprečimo kontaminacijo med pripravo vzorcev • zagotovimo ustrezno količino vzorca • med pripravo ne smemo spremniti ke-sestave |
| Vrste kemijskih analiz | • več kategorij: • mokra kemijska analiza • (praškovna) suha ali mokra spektroskopija • in-situ spektroskopija • mokra kemija • spektroskopske tehnike |
| Mokra kemijska analiza | • vključuje eksperimentalne tehnike • uporabljajo se tri kvantitativne tehnike analitske tehnike • gravimetrična • volumetrična • kolorimetrična |
| Spektroskopske analize | • različni tipi spektroskopskih tehnik • vrste spektroskopskih tehnik • ICP in AAS • XRF in XRD • EPMA in SEM • SIMS, TIMS • PIGE, PIXE • NAA • Mössbauer • RS, IR |
| ICP in AAS | • enaka pripravi vzorcev kot pri postopkih mokre kemije • Atomska absorpcijska spektrometrija (AAS) • Spektrometrija z induktivno sklopljeno plazmo (ICP) • ICP-MS • ICP-AES (ICP-OES) |
| Rezultati analize | Rezultati analize • Ocenimo • natančnost ali ponovljivost • točnost ali zanesljivost • https://pubs.usgs.gov/fs/2007/3056/pdf/fs07-3056_508.pdf • Cenzurirane vrednost • Meja določljivosti ali meja detekcije (NE!!! detekcijski limit) |